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高速特性檢測機置 | High Speed Index Inspection Machine - 自動化設備,自動化檢測,自動化設備設計,外觀檢查機,AOI,半導體設備,LED/零件外觀檢查機,自動光學檢測設備,自動光學檢測,自動檢測機,特殊客製化設備,客製化專用機械設計,客製化機械

裝置簡要

  • 吸嘴將在藍膜或tray盤上的工件經由3個獨立的檢測台配合光學定位裝置, 按客戶要求對晶片進行外觀或電性檢查, 最後逐一放置在托盤或編帶上。
                       OKANO High Speed Index Inspection Machine

規格

  • 速度:36000個/小時
  • 檢測台:3個 (按客戶要求訂制)
  • 適合易損工件
  • 組件尺寸:0402//0201以上 (含)
  • 設備尺寸:W1300 x D1050 x H1700 (mm)
  • 電源:AC200V (3相)

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