高速元件四面/六面外觀檢查裝置 | 4 or 6 Sided High Speed Chip Inspection - 自動化設備,自動化檢測,自動化設備設計,外觀檢查機,AOI,半導體設備,LED/零件外觀檢查機,自動光學檢測設備,自動光學檢測,自動檢測機,特殊客製化設備,客製化專用機械設計,客製化機械

裝置簡要

• 六面體的零件，如電容、LE​​D、Diode、電阻、MLCC (Multi Layer Ceramic Capacitor) 等零件經由上料盤送至轉盤上，CCD相機把全部六個表面進行外觀檢查，並按預先設定的設定分類。檢查項目包括裂痕、缺陷、破損、剝離、異物、變色及尺寸測量等。
• 將彈倉提供的晶盤固定於向X, Y, ø方向移動平台上，由線性掃描相機掃描生成芯片定位數據後，高精度相機進行多芯片同時檢查。
• 驚人的處理速度 - 利用CPU/GPU核心處理進行高速並行處理。 (60秒達到1萬個。)
• 高性價比。
• 測定法簡單 - 只要從觸控屏畫面上方開始以對話形式依次觸摸按鈕，15分鐘完成。 (操作簡單，即使是新手也馬上能掌握。)
• 適應型學習軟體。
• 採用新開發的圖像檢測演算法。克服傳統的學習合格品(圖案線)的缺點。

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規格

• 高速六面檢查機 (4000個/分鐘，共35個檢查項目)。
• 按工件情況使用不同的光源系統令檢查更可靠。
• 自行開發檢驗軟體得以實現高精度丶高產量。
• 簡單及低成本維修。
• 可檢查排阻型零件。
• 高、低光源系統提供更高的檢出效果。
• 設備尺寸：W900 x D1000 x H1825 (mm)
• 零件尺寸：0201~1812 (英制) / 0603~4632 (公制)
• 解析度：2.8μm
• 影像儲存：200張*6=1200張 (6面)
• 重量：~ 450 公斤
• 電源：AC22​​0V (380V) 3相